首先，了解下用表面鍍層測厚儀測量準確需要什么條件，具體為以下幾點：

　　1.基體金屬特性。對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　2.基體金屬厚度。檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。

　　3.讀數(shù)次數(shù)。通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。

　　4.邊緣效應。不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。

　　5.曲率。不應在試件的彎曲表面上測量。

　　6.表面清潔度。測量前，應清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

　　了解了表面鍍層測厚儀的測量準確條件，再來看看哪些因素會影響表面鍍層測厚儀的測量。

　　使用磁性原理和渦流原理的表面鍍層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹。

　　1、邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)е聹y量誤差。如必須測量該點的覆層厚度，只有預先在相同條件的無覆層表面進行校準，才能測量。

　　2、基體表面曲率在一個平直的對比試樣上校準好一個初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個初始值。或參照下條。

　　3、基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個給定的zui小厚度，使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個厚度之上剛好可以進行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的表面鍍層測厚儀，如前所述。

　　4、表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì)，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”。

　　5、探頭測量板的作用力探頭測量時的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動，必要時，可在兩者之間墊一層硬的，不導電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當?shù)氐玫绞４拧?/p>

　　6、覆層材料中的鐵磁成份和導電成份覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時，會對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。

　　7、外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應該避免在有干擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁，根據(jù)檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差，但是如結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

　　以上介紹了如何使用表面鍍層測厚儀測量更準確，更多關(guān)于表面鍍層測厚儀的信息，咨詢!